高温反偏、栅偏测试系统

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MX300R系列高温反偏、栅偏测试系统是一款高温电压应力老化测试设备,主要由加热、温控单元、高、低压源以及相关控制、采集单元组成。

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高温反偏、栅偏测试系统

MX300R系列高温反偏、栅偏测试系统是一款高温电压应力老化测试设备,主要由加热、温控单元、高、低压源以及相关控制、采集单元组成。

所属分类:

Kewell科威尔

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  • 产品描述

    产品特点:

    ● 测试精度高,电流的量程根据实际所测的漏电流自动选择分档,以保证测试精度
    ● 实时监控测试温度、数据,试验每通道电压/工位漏电流检测/试验箱温度检测并描绘出完整变化曲线
    ● 独立高压击穿保护,每工位串联保护器件,防止器件失效造成的测试板损坏
    ● 兼容Si/SiC/GaN材料的IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件测试,器件形式兼容单管、模块等不同封装.

    产品应用:

    主要用于IGBT、SiC、二极管等功率器件的电压应力老化测试,以评估器件的可靠性。参考标准AQG324车规级功率模块可靠性试验标准,GJB128A半导体分立器件测试方法,AECQ101基于失效机制的分立半导体应用测试认证规范等。

     

    选型说明:

    项目

    MX300R-2000

     

    设定解析度

    ≤0.3%+20mV

    负载调节率

    ≤0.3%F.S+10mV

    电压调节率

    ≤0.1%±2LSB

    纹波

    ≤0.3%F.S+50mV

    高温箱

    温度范围

    (室温RT+15)℃~200℃

    温度波动度

    ≤±0.5℃

    温度均匀性

    ≤±2℃

    温度偏差

    ≤±2.0℃

    升温速度

    室温到200℃,≤40min

    电流采集

    反偏

    0.1uA~99.9uA

    分辨率0.1uA

    精度1%±2LSB

    100uA~999uA

    分辨率1uA

    精度1%±2LSB

    0.01mA~20mA

    分辨率0.1uA

    精度1%±2LSB

    栅偏

    1nA~99.9nA

    分辨率1nA

    精度1%±2LSB

    100nA~999.9nA

    分辨率10nA

    精度1%±2LSB

    1uA~200uA

    分辨率0.1uA

    精度1%±2LSB

    过流保护

    电流保护值可设定

    NTC检测

    检测精度

    兼容5KΩ/22KΩ型热敏电阻阻值检测,精度1%

    电压采集

    反偏

    采集老化板供电电压

    栅偏

    采集老化板供电电压

    功能

    老化板插合检测

    老化板插合状态检测回馈

    接触测试

    被测件安装状态检测回馈

     

    项目

    MX300R-2000

    可编程高压源

    输出电压范围

    0-2000VDC

    输出电流范围

    0-600mA

    设定解析度

    1V/0.1mA

    负载调节率

    ≤0.5%±2LSB

    电压调节率

    ≤0.1%±2LSB

    纹波

    ≤0.05%FS

    可编程低压源

    输出电压范围

    0-60VDC

    输出电流范围

    0-10A

     

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